■TH2826系列元件測試儀是*臺符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，可測量低ESR電容器和高Q電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析。                              

■TH2826系列產(chǎn)品是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試強有力的工具。其超高速的測試速度使其特別適用于自動生產(chǎn)線的點檢機，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等等。
其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。
■TH2826系列產(chǎn)品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和軍用標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試

廣泛的測量對象                              
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。
半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性